2.1 静态随机存储器实验
2.1.1 实验目的
掌握静态随机存储器RAM工作特性及数据的读写方法。
2.1.2 实验设备
PC机一台,TD-CMA实验系统一套。
2.1.3 实验原理
实验原理图如图2-1-3所示,存储器数据线接至数据总线,数据总线上接有8个LED灯显示D7…D0的内容。地址线接至地址总线,地址总线上接有8个LED灯显示A7…A0的内容,地址由地址锁存器(74LS273,位于PC&AR单元)给出。数据开关(位于IN单元)经一个三态门(74LS245)连至数据总线,分时给出地址和数据。地址寄存器为8位,接入6116的地址A7…A0,6116的高三位地址A10…A8接地,所以其实际容量为256字节。
D7 - - - - - D0T3IOMOECSD7 - - - - - D06116RDWEMRMW读写译码RDWRA10 - A8A7 - - - - - A0AD7AD074LS273LDAR74LS245IN单元IORIN_B
图2-1-3 存储器实验原理图
实验箱中所有单元的时序都连接至时序与操作台单元,CLR都连接至CON单元的CLR按钮。实验时T3由时序单元给出,其余信号由CON单元的二进制开关模拟给出,其中IOM应为低(即MEM操作),RD、WR高有效,MR和MW低有效,LDAR高有效。
2.1.4 实验步骤
(1) 关闭实验系统电源,按图2-1-4连接实验电路,并检查无误,图中将用户需要连接的信号用圆圈标明。
(2) 将时序与操作台单元的开关KK1、KK3置为运行档、开关KK2置为‘单步’档(时序单元的介绍见附录二)。
(3) 将CON单元的IOR开关置为1(使IN单元无输出),打开电源开关,如果听到有‘嘀’报警声,说明有总线竞争现象,应立即关闭电源,重新检查接线,直到错误排除。
时序与操作台单元TS1TS230HZTS3TS4控制总线T1T2T3T4地址总线XA7...XA0数据总线XD7...XD0CLK0......CPU内总线D7...D0A7...A0MEM单元D7...D0WR RD............D7...D0PC&AR单元LDARD7...D0IN单元IN_BRD XMWR XMRD控制总线WR RD IOMLDARCON单元IORWR RD IOM
图2-1-4 实验接线图
(4) 给存储器的00H、01H、02H、03H、04H地址单元中分别写入数据11H、12H、13H、14H、15H。由前面的存储器实验原理图(图2-1-3)可以看出,由于数据和地址由同一个数据开关给出,因此数据和地址要分时写入,先写地址,具体操作步骤为:先关掉存储器的读写(WR=0,RD=0),数据开关输出地址(IOR=0),然后打开地址寄存器门控信号(LDAR=1),按动ST产生T3脉冲,即将地址打入到AR中。再写数据,具体操作步骤为:先关掉存储器的读写(WR=0,RD=0)和地址寄存器门控信号(LDAR=0),数据开关输出要写入的数据,打开输入三态门(IOR=0),然后使存储器处于写状态(WR=1,RD=0,IOM=0),按动ST产生T3脉冲,即将数据打入到存储器中。写存储器的流程如图2-1-5所示(以向00地址单元写入11H为例):
IN单元置地址(00000000)地址打入AR(00000000)IN单元置数据(00010001)数据打入MEM(00010001)WR = 0RD = 0IOM = 0IOR = 0LDAR = 0WR = 0RD = 0IOM = 0IOR = 0LDAR = 1T3= WR = 0RD = 0IOM = 0IOR = 0LDAR = 0WR = 1RD = 0IOM = 0IOR = 0LDAR = 0T3=
图2-1-5 写存储器流程图
(5) 依次读出第00、01、02、03、04号单元中的内容,观察上述各单元中的内容是否与前面写入的一致。同写操作类似,也要先给出地址,然后进行读,地址的给出和前面一样,而在进行读操作时,应先关闭IN单元的输出(IOR=1),然后使存储器处于读状态(WR=0,RD=1,IOM=0),此时数据总线上的数即为从存储器当前地址中读出的数据内容。读存储器的流程如图2-1-6所示(以从00地址单元读出11H为例):
IN单元置地址(00000000)地址打入AR(00000000)关闭IN单元输出(********)读出MEM数据(00010001)WR = 0RD = 0IOM = 0IOR = 0LDAR = 0WR = 0RD = 0IOM = 0IOR = 0LDAR = 1T3= WR = 0RD = 0IOM = 0IOR = 1LDAR = 0WR = 0RD = 1IOM = 0IOR = 1LDAR = 0
图2-1-6 读存储器流程图
如果实验箱和PC联机操作,则可通过软件中的数据通路图来观测实验结果(软件使用说明请看附录1),方法是:打开软件,选择联机软件的“【实验】—【存储器实验】”,打开存储器实验的数据通路图,如图2-1-7所示。
进行上面的手动操作,每按动一次ST按钮,数据通路图会有数据的流动,反映当前存储器所做的操作(即使是对存储器进行读,也应按动一次ST按钮,数据通路图才会有数据流动),或在软件中选择“【调试】—【单周期】”,其作用相当于将时序单元的状态开关置为‘单步’档后按动了一次ST按钮,数据通路图也会反映当前存储器所做的操作,借助于数据通路图,仔细分析SRAM的读写过程。
图2-1-7 数据通路图
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